Dr.-Ing. Marcus Petz

Marcus Petz

Oberingenieur

Schleinitzstraße 20
D-38106 Braunschweig

Zimmer 013
Telefon : (0531) 391-7024
Telefax : (0531) 391-5837
E-Mail : m.petz@tu-bs.de



Forschungsschwerpunkte

  • Optische Formerfassung
  • Nahbereichsphotogrammetrie
  • Dreidimensionale Messung reflektierender Oberflächen
  • Multisensor-Koordinatenmesstechnik
  • Modellbildung und Kalibrierung

Geförderte Projekte

  • Hochgenaue deflektometrische Formmessung unter Berücksichtigung der nicht-idealen Eigenschaften eines Displays als Referenzebene (DFG Sachbeihilfe)
  • Dreidimensionale Formerfassung von transparenten Objekten mittels Rasterphotogrammetrie in Transmission (DFG Sachbeihilfe)

Projekte

Lehrveranstaltungen

Sprechstunden

  • nach Vereinbarung

Auszeichnungen

  • Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis 2005 - für herausragende Arbeiten von wissenschaftlichen Nachwuchskräften auf dem Gebiet der optischen Koordinaten-Meßtechnik
  • Outstanding Paper Award des „10th International Symposium on Measurement and Quality Control ISMQC 2010“ für den Beitrag: Tactile-optical microprobes for three dimensional measurements of microparts
  • Best Paper Award der Tagung „Sensoren und Messsysteme 2012“ für den Beitrag: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung

Gremienarbeit

  • Vorsitzender des VDI/VDE-GMA Fachausschusses 3.32 Optische 3D-Messtechnik
  • Mitglied des VDI/VDE-GMA Fachausschusses 2.15 Optische Messverfahren zur Strukturanalyse und -überwachung

Veröffentlichungen

  1. Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Optische Inspektion spiegelnder und transparenter Oberflächen. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.): VDI-Berichte 2326, 6. VDI-Fachtagung „Optische Messung von Funktionsflächen 2018“, Düsseldorf : VDI, 2018, S. 107-118
  2. Petz, M.; Dierke, H.; Tutsch, R.: Photogrammetrische Bestimmung der Brechungseigenschaften von Flüssigkristallbildschirmen für die Deflektometrie. In: DGaO (Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik) 119. Jahrestagung (Tagungsband), 22.-26.05.2018 in Aaalen, S. 80
  3. Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Defekterkennung an spiegelnden und transparenten Oberflächen durch Abbildung einer örtlich modulierbaren Lichtquelle. In: tm - Technisches Messen, Heft 85 (2018) 2, S. 79-87, https://doi.org/10.1515/teme-2017-0088
  4. Tutsch, R.; Petz, M.; Fischer, M.: Contribution of camera noise to uncertainty in 3D optical metrology. International Symposium on Optomechatronic Metrology. Tainan, Taiwan, November 6-9 2017
  5. Puschke, A.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: GPU-based raytracing for accelerating deflectometric asphere measurements. 18th International Congress of Metrology, 2017, https://doi.org/10.1051/metrology/201714007
  6. Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Defekterkennung an spiegelnden und transparenten Oberflächen durch Abbildung einer flächenhaft modulierbaren Lichtquelle. In: DGAO (Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik) 118. Jahrestagung (Tagungsband), 06.-10.06.2017 in Dresden, S. 46
  7. Fischer, M., Petz, M., and Tutsch, R.: Statistical characterization of evaluation strategies for fringe projection systems by means of a model-based noise prediction. In: Journal of Sensors and Sensor Systems (JSSS), Volume 6, 2017, pp. 145-153, http://doi.org/10.5194/jsss-6-145-2017
  8. Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte Rauschvorhersage für Streifenprojektionssysteme – Ein Werkzeug zur statistischen Analyse von Auswertealgorithmen. In: tm - Technisches Messen, Heft 84 (2017) 2, S. 111-122, https://doi.org/10.1515/teme-2016-0059
  9. Nitsche, J.; Baumgarten, S.; Petz, M.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Measurement uncertainty evaluation of a hexapod-structured calibration device for multi-component force and moment sensors. In: Metrologia, Volume 54, Number 2, pp. 171-183, https://doi.org/10.1088/1681-7575/aa5b66
  10. Tutsch, R.; Petz, M.; Fischer, M.: Das Triangulationsprinzip – der Kern der optischen 3D-Messtechnik. Vortrag, 16. Oldenburger 3D-Tage, 3. Februar 2016
  11. Nitsche, J.; Petz, M.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Geometric characterization of a hexapod-structured calibration device for multi-component force and moment transducers. In: International Symposium on Optomechatronic Technologies 2016, 07. - 09.11.2016, Tokyo, Japan
  12. Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Model-based noise estimation for fringe projection systems. In: 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, 10. Und 11. Mai 2016 in Nürnberg, S. 534-539, ISBN-Nr. 978-3-9816876-0-6
  13. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Modellierung stochastischer Abweichungen in optischen 3D-Messsystemen. In: VDI-Berichte 2269: Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis, 7. VDI-Fachtagung „Messunsicherheit Praxisgerecht Bestimmen“, 2. VDI-Fachtagung „Prüfprozesse in der Industriellen Praxis“, Braunschweig, 19. und 20. November 2015, S. 57-70, ISBN-Nr. 978-3-18-092269-0
  14. Komander, B.; Lorenz, D.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Data fusion of surface normals and point coordinates for deflectometric measurements. In: Journal of Sensors and Sensor Systems (JSSS), Volume 3, 2014, pp. 281-290, doi: 10.5194/jsss-3-281-2014
  15. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Model-based deflectometric measurement of transparent objects. Oral presentation at EOSAM 2014, 15-19 September 2014, Berlin, 2014
  16. Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte deflektometrische Messung von transparenten Objekten. In: tm - Technisches Messen, Heft 81 (2014) 4, S. 190-196
  17. Fischer, M.; Nitsche, J.E.; Petz, M.; Tutsch, R.: Einfluss der Messpunktdichte bei Anwendung der Extremwertstatistik. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2216, Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, 6. Fachtagung Braunschweig, 5. und 6. November 2013, Düsseldorf : VDI, 2013, S. 143-154
  18. Nitsche, J.E.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Measurement of the Geometry of Transmissive Optical Elements with Deflectometry. In: International Symposium of Optomechatromics 2013, Oct. 27 - 30, Jeju, Korea
  19. Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Systematic errors in deflectometry induced by use of liquid crystal displays as reference structure. 21st IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, 16-18 September 2013, Gdańsk, Poland
  20. Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte deflektometrische Messung von transparenten Objekten. In: AHMT-Tagungsband XXVII. Messtechnisches Symposium, 12.-14.09.2013 in Zürich, Shaker Verlag, S. 139-150, ISBN: 978-3-8440-2124-0
  21. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Model-Based Deflectometric Measurement of Transparent Objects. In: Fringe 2013 – 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, 9.-11.09.2013 in Nürtingen, Springer Verlag, S. 573-576, ISBN: 978-3-642-36358-0
  22. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Online-Bestimmung der aufgabenspezifischen zufälligen Abweichungen phasenmessender optischer Sensoren. In: Forum Bildverarbeitung 2012, 29.-30. November 2012, Regensburg, S. 59-70
  23. Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.; Krystek, M.: Approach for the form measurement of rotationally symmetric workpieces. In: Michal Wieczorowski (ed.) et. al.: Implementation of Coordinate Metrology. University of Bielsko-Biala, Poland, 04/2012 pp. 103-113, ISBN: 978-83-63713-22-5
  24. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. In: tm - Technisches Messen, Heft 79 (2012) 10, S. 451-458
  25. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. Sensoren und Messsysteme 2012, 16. GMA/ITG-Fachtagung, 22.-23. Mai, Nürnberg, 2012, S. 374-385, ausgezeichnet mit dem Best Paper Award
  26. Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion dimensioneller Messungen. In: tm - Technisches Messen, Heft 79 (2012) 4, S. 238-245
  27. Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion von Koordinatenmessungen. Sensoren und Messsysteme 2012, 16. GMA/ITG-Fachtagung, 22.-23. Mai, Nürnberg, 2012, S. 578-588.
  28. Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Approach for the form measurement of rotationally symmetric workpieces. Xth International scientific conference „Coordinate Measuring Technique“, 23rd - 25th April 2012, Bielsko-Biala, Poland, 04/2012.
  29. Petz, M.; Tutsch, R.; Christoph, R.; Andraes, M.; Hopp, B.: Tactile–optical probes for three-dimensional microparts. In: Measurement 45 (2012) 10, pp. 2288-2298, Available online 20 October 2011, ISSN 0263-2241, doi:10.1016/j.measurement.2011.10.019
  30. Keck, C.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phasenrauschen bei Messungen mit strukturierter Beleuchtung. 3D-NordOst 2011 - 14. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Modellierung, Verarbeitung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 08.-09.12.2011, S. 7-16
  31. Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion dimensioneller Messungen. In: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2011, S. 253-264
  32. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phasenrauschen in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. In: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2011, S. 115-125
  33. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Online Phase Noise Estimation in Structured Illumination Measurement Systems. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 104 (abstract)
  34. Tutsch, R.; Petz, M.; Fischer, M.: Optical three-dimensional metrology with structured illumination. In: Optical Engineering 50 (10), 101507 (October 2011), doi:10.1117/1.3578448
  35. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phase Noise in Structured Illumination Systems. In: Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, 16.-18.05.2011 , Linz/Austria, pp. 63-68, ISBN: 978-3-8440-0058-0
  36. Tutsch, R.; Petz, M.; Galovska, M.: Strategy and uncertainty evaluation of cylindrical and spherical measurements without rotation axis. In: 3rd International Conference MANUFACTURING 2010, Institute of Mechanical Technology, Poznan University of Technology, Poznan, Poland, 2010, p. 194
  37. Tutsch, R.; Petz, M.; Schrader, Chr.: Kleinste Merkmale mit Koordinatenmessgeräten messen - taktil und berührungslos. In: VDI-Berichte 2120, Koordinatenmesstechnik 2010 - Technologien für eine wirtschaftliche Produktion, 8. VDI-Fachtagung, Braunschweig, 3. und 4. November 2010, Düsseldorf : VDI, 2010, S. 61-69
  38. Tutsch, R.; Andraes, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Petz, M.; Wiedenhoefer, T.; Wissmann, M.: Tactile-Optical Microprobes for three Dimensional Measurements of Microparts. In: Proceedings of the 10th International Symposium on Measurement and Quality Control, September 5.-9, 2010, Osaka, Japan, pp. E2-032-1-4, rewarded the "Outstanding Paper Award" (105.03 KiB) of ISMQC 2010
  39. Tutsch, R.; Petz, M.; Galovska, M.: Messstrategie für zylindrische Werkstücke ohne Verwendung einer Rotationsachse. In: Tagungsband VDE-Wissensforum, Form- und Konturmesstechnik 2010, Leonberg, 15.-16.06.2010
  40. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Evaluation of LCD monitors for deflectometric measurement systems. In: Berghmans, F.; Mignani, A. G.; van Hoof, C. A. (ed.): Optical Sensing and Detection, Proc. SPIE Vol. 7726 (2010), pp. 77260V-1-77260V-10
  41. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Bewertung von LCD-Monitoren für deflektometrische Messsysteme. In: Sensoren und Messsysteme 2010, Vorträge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18.-19. Mai in Nürnberg, 2010, S. 159-165
  42. Petz, M.; Tutsch, R.; Andräs, M.; Wiedenhöfer, T.; Hopp, B.: Stereophotogrammetric Tactile-Optical Probe for Three-Dimensional Microparts. In: Advances in Coordinate Metrology, University of Bielsko-Biała, Bielsko-Biała, 2010, ISBN 978-83-62292-56-1, pp. 275-284
  43. Tutsch, R.; Petz, M.; Andräs, M.; Wiedenhöfer, T.; Neuschaefer-Rube, U.; Wissmann, M.: Taktil-optischer 3D-Taster zur Messung von Mikrobauteilen. In: tm - Technisches Messen, Heft 77 (2010) 2, S. 95-100
  44. Keck, Ch.; Eggers, J.-H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Ein Verfahren zur Messung der räumlichen Position und Orientierung von Mikrobauteilen mit planaren Strukturen. In: L. Paul, Prof. G. Stanke / M. Pochanke: 3D-NordOst 2009 - 12. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Modellierung, Verarbeitung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 2009, S. 81-90
  45. Broistedt, H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Force transducer based on a geometric-optical displacement sensor. In: ISOT 2009. International Symposium on Optomechatronic Technologies, 2009, pp. 164-168
  46. Broistedt, H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Kraftaufnehmer auf Basis eines geometrisch-optischen Längenmesssystems. In: XXIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2009, S. 13-24
  47. Tutsch, R.; Andräs, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Petz, M.; Wiedenhöfer, T.; Wissmann, M.: Three Dimensional Tactile-Optical Probing of Microparts. In: Proceedings of SENSOR 2009, Volume II, pp. 139-144
  48. Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Three-dimensional shape measurement of aspheric refractive optics by pattern transmission photogrammetry. In: Beraldin, J. A.; Cheok, G. S.; McCarthy, M.; Neuschaefer-Rube, U. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7239 (2009) - Three-Dimensional Imaging Metrology, pp. 723906-1 - 723906-8
  49. Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Dreidimensionale Formerfassung von asphärischen refraktiven Optiken mittels Rasterphotogrammetrie in Transmission. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2011, Sensoren und Messsysteme 2008, 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. März 2008, Düsseldorf : VDI, 2008, S. 397-408
  50. Tutsch, R.; Petz, M.; Keck, C.: Optical 3D measurement of scattering and specular reflecting surfaces. In: Journal of Physics: Conference Series, UK, Vol. 139 (2008), p. 012008 (6 pp.)
  51. Fischer, M.; Berndt, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Photogrammetrie in der Mikromontage, Industrielle Bildverarbeitung für automatisierte Produktionen. Fraunhofer IPA Workshop F149, 05.07.2007, Machine Vision Excellence 2007, S. 168-177, Stuttgart, 2007
  52. Tutsch, R.; Petz, M.: Ermittlung der Oberflächengeometrie aus Messpunktewolken in der optischen 3D-Messtechnik. Expertenforum „Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik“ am 21. und 22. Juni 2006 in Eisenach /VDI/VDE-Gesellschaft, In: Beyerer, J.; Puente León, F.; Sommer, K.-D. (Hrsg.): Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik. Universitätsverlag Karlsruhe, 2006, ISBN 978-3-86644-053-1, S. 127, Volltext als PDF (externer Link)
  53. Petz, Marcus: Rasterreflexions-Photogrammetrie - Ein neues Verfahren zur geometrischen Messung spiegelnder Oberflächen. Dissertation, Technische Universität Braunschweig, 2006, Schriftenreihe des Instituts für Produktionsmesstechnik, Band 1, Aachen : Shaker, ISBN 3-8322-4944-3
  54. Petz, M.; Tutsch, R.: Reflection grating photogrammetry: a technique for absolute shape measurement of specular free-form surfaces. In: Stahl, H.P. (ed.): Proc. SPIE Vol. 5869 (2005) - Optical Manufacturing and Testing VI, pp. 58691D-1 - 58691D-12
  55. Petz, M.: Rasterreflexions-Photogrammetrie - ein neues Verfahren zur geometrischen Messung spiegelnder Oberflächen. Vortrag anläßlich der Verleihung des Dr.-Ing. Siegfried Werth Preises 2005, Gießen, 21.04.2005
  56. Petz, M.; Tutsch, R.: Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen. In: tm - Technisches Messen, Heft 71 (2004) 7-8, S. 389-397
  57. Petz, M.; Tutsch, R.: Reflection grating photogrammetry. In: VDI-Berichte 1844, International Symposium on Photonics in Measurement, Frankfurt, 2004, pp. 327-338
  58. Petz, M.; Tutsch, R.: Photogrammetrische Messung schneller Verformungen mit Zeilenkameras. VDI-Berichte 1829, Sensoren und Messsysteme 2004, Tagung, Ludwigsburg, 15.-16.03.2004, S. 689-697
  59. Petz, M.; Tutsch, R.; Brand, M.; Michailov, V.: Verformungsmessung an Schweißkonstruktionen unter Einsatz des Objektrasterverfahrens. In: L. Paul, Prof. G. Stanke / M. Pochanke: 3D-NordOst 2003 - 6. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Verarbeitung, Modellierung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 2003, S. 71-78
  60. Tutsch, R.; Petz, M.; Berndt, M.; Hesselbach, J.; Pokar, G.; Heuer, K.: 3D-sensor for the control of a micro assembly robot. In: Knopf, G. (ed.): Proc. SPIE Vol. 5264 (2003) - Optomechatronic Systems IV, pp. 266-273
  61. Brand, M.; Michailov, V.; Petz, M.; Tutsch, R.: FE-Welding Simulation and Distortion Measurement During Welding Using Optical Object Grating Method. 7th International Seminar Numerical Analysis of Weldability, 29 September - 1 October 2003, Graz, Austria
  62. Petz, M.; Tutsch, R.: Measurement of optically effective surfaces by imaging of gratings. In: Osten, W.; Creath, K.; Kujawinska, M. (ed.): Proc. SPIE Vol. 5144 (2003) - Optical Measurement for Industrial Inspection II, pp. 288-294
  63. Petz, M.; Tutsch, R.; Brand, M.; Michailov, V.: Distortion measurement during welding of fine grain high strength steel using optical object grating method. Poster Presentation: Mathematical Modelling And Information Technologies In Welding And Related Processes, vil. Katsiveli, Crimea, Ukraine, 16. - 20. September 2002
  64. Petz, M.; Tutsch, R.: Optical 3D Measurement of Reflecting Free Formed Surfaces. In: VDI-Berichte 1694, International Symposium on Photonics in Measurement, Aachen, 2002, pp. 329-332
  65. Petz, M.; Tutsch, R.: Rasterfahndung - Konturerfassung reflektierender Oberflächen. In: QZ - Qualität und Zuverlässigkeit, Jahrg. 47 (2002) 5, München, S. 556-558
  66. Tutsch, R.; Ritter, R.; Petz., M.: Zur flächenhaften zerstörungsfreien Prüfung mit Hilfe optischer Feldmeßtechnik. In: DGZfP-Jahrestagung 2001 „Zerstörungsfreie Materialprüfung“, Berlin, 2001
  67. Tutsch, R.; Ritter, R.; Ispas, D.; Petz, M.; Casarotto, L.: Microphotogrammetry for 3D strain measurement and microassembly control. In: Gorecki, Ch.; Jüptner, W.; Kujawinska, M. (ed.): Proc. SPIE Vol. 4400 (2001) - Microsystems Engineering: Metrology and Inspection, pp. 27-35
  68. Petz, M.; Ritter, R.: Reflection grating method for 3D measurement of reflecting surfaces. In: Höfling, R.; Jüptner, W.; Kujawinska, M. (ed.): Proc. SPIE Vol. 4399 (2001) - Optical Measurement for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering, pp.35-41
  69. Petz, M.; Ritter, R.: Rasterreflexionsverfahren zur Konturerfassung spiegelnd reflektierender Oberflächen. Vortrag: DGaO-Jahrestagung 2001, Göttingen

Patente

  • Petz, M.; Ritter, R.: Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der dreidimensionalen Kontur einer spiegelnden Oberfläche eines Objekts. Patentschrift: DE 101 27 304 C5, Anmeldetag: 06.06.2001, Offenlegungstag: 19.12.2002, Veröffentlichung der Patenterteilung: 12.06.2003, Veröffentlichungstag des geänderten Patents: 19.07.2007, Patentinhaber: Technische Universität Carolo Wilhelmina zu Braunschweig
  • Petz, M.; Tutsch, R.: Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung der Abbildungseigenschaften von transparenten Objekten. Offenlegungsschrift: DE 103 28 145 A1, Anmeldetag: 21.06.2003, Offenlegungstag: 13.01.2005, Anmelder: Technische Universität Carolo Wilhelmina zu Braunschweig
Cookies helfen bei der Bereitstellung von Inhalten. Durch die Nutzung dieser Seiten erklären Sie sich damit einverstanden, dass Cookies auf Ihrem Rechner gespeichert werden. Weitere Information