Veröffentlichungen

Jahrgang 2017

  • Nitsche, J.; Röske, D.; Tutsch, R.: Influence of Coordinate System Alignment on the Calibration of Multi-Component Force and Moment Sensors. In: IMEKO TC3, TC5, TC22 Conference 2017, 30 May - 01 June 2017, Helsinki, Finland, http://www.imeko.org/publications/tc3-2017/IMEKO-TC3-2017-017.pdf
  • Liu, P.; Jusko, O.; Tutsch, R.: Hybrid data fusion strategy fort he low-uncertainty 3D calibration of cylinder standards. In: Measurement Science and Technology 28 (2017) 065013 (10pp), DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6501/aa6462
  • Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Defekterkennung an spiegelnden und transparenten Oberflächen durch Abbildung einer flächenhaft modulierbaren Lichtquelle. In: DGAO (Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik) 118. Jahrestagung (Tagungsband), 06.-10.06.2017 in Dresden, Seite 46
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Modellbasierte Rauschvorhersage für Streifenprojektionssysteme – Ein Werkzeug zur statistischen Analyse von Auswertealgorithmen. In: tm (Technisches Messen) 2017, Volume 84, Number 2, De Gruyter, S. 111-122, ISSN: 0171-8096, e-ISSN 2196-7113
  • Nitsche, J.; Baumgarten, S.; Petz, M.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Measurement uncertainty evaluation of a hexapod-structured calibration device for multi-component force and moment sensors. In: Metrologia, Volume 54, Number 2, Page 171, DOI: https://doi.org/10.1088/1681-7575/aa5b66

Jahrgang 2016

  • Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Model-based noise estimation for fringe projection systems. In: 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, 10. Und 11. Mai 2016 in Nürnberg, S. 534-539, ISBN-Nr. 978-3-9816876-0-6
  • Keck, C., Tutsch R.: Ein stereophotogrammetrischer Sensor mit einem Strahlteiler aus Prismen. In: 18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016, 10. und 11. Mai 2016 in Nürnberg, S. 330-334, ISBN-Nr. 978-3-9816876-0-6
  • Nitsche, J.; Petz, M.; Röske, D.; Kumme, R.; Tutsch, R.: Geometric characterization of a hexapod-structured calibration device for multi-component force and moment transducers. In: International Symposium on Optomechatronic Technologies 2016, 07. - 09.11.2016, Tokyo, Japan
  • Tutsch, R.; Fischer, M.: Beiträge zur Messunsicherheit bei deflektometrischen Messverfahren, Systematische und stochastische Störeinflüsse. In: VDI-Berichte 2285, 5. VDI-Fachtagung Optische Messung von Funktionsflächen 2016, 28. und 29.06.2016 in Nürtingen, Seite 111-120, ISBN-Nr. 978-3-18-092285-0
  • Teichmann, M.; Kassner, H.; Schuth, E.; Neumann, S.; Kawala, D.; Reipschläger, P.; Maciejewski, C.; Nitsche, J. E.; Zhao, L.; Bobzin, K.; Mauer, G.; Vassen, R.: Near Net Shape Coatings with Enhanced Surface Roughness and Superior Coating Properties. In: Turbine Forum 2016 - Advanced Coatings for High Temperatures, 27. - 29.04.2016, Nice, France
  • Tutsch, R.; Han, S.; Dierke, H.: Reducing the influence of speckle structures on laser light sectioning sensors. In: Measurement Science and Technology, Volume 27, Number 12, Seite 124003, DOI: http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/27/12/124003

Jahrgang 2015

  • Tutsch, R.; Jusko, O.; Liu, P.: Data fusion for cylindrical form measurements. In: Surface Topography: Metrology and Properties, Volume 3 (2015), Number 4, 045004, IOP Publishing Ltd., doi: http://dx.doi.org/10.1088/2051-672X/3/4/045004
  • Tutsch, R., Galovska, M.: Erweiterung des Anwendungsbereiches und Verringerung der Messunsicherheit. In: VDI-Tagung Multisensorik in der Fertigungsmesstechnik 2015, 17. und 18.03.2015 in Nürtingen, Seite 123-131, ISBN 978-3-942980-38-8
  • Dierke, H.; Tutsch, R.: Transparente Materialien optisch messen. In: wt Werkstatttechnik online, Jahrgang 105, Heft 11/12-2015, Seite 770-774

Jahrgang 2014

  • Komander, B.; Lorenz, D.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Data fusion of surface normals and point coordinates for deflectometric measurements. In: Journal of Sensors and Sensor Systems (JSSS), Volume 3, 2014, pp. 281-290, doi: 10.5194/jsss-3-281-2014
  • Tutsch, R., Dierke, H.: Correction of Systematic Errors in the Measurement of thin layers with Optical Surface Profilers. Vortrag auf 6th „CIMM-PTB Seminar on Dynamic Measurement and Nanometrology“, PTB Braunschweig und Berlin, visit of Chinese Delegation (CIMM, NIM) in Braunschweig, 22.-25.09.2014
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Model-based deflectometric measurement of transparent objects. Oral presentation at EOSAM 2014, 15.-19. September 2014, Berlin 2014
  • Tutsch, R., Dierke, H.: Correction of systematic errors in the step-height measurement with optical surface profilers. In: Proceedings of the 11th IMEKO TC14 Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry (LMPMI2014), Tsukuba, Japan 03.-05.09.2014, pp. 205-207, ISBN 978-1-63266-731-1
  • Hernández, C.; Tutsch, R.: Response delay and predictive estimation of specifications for assemblies. In: Int. J. Mechatronics and Manufacturing Systems, Vol. 7, Nos. 2/3, 2014, pp. 210-224
  • Dierke, H.; Fischer, M.; Schrader, C.; Nitsche, J.-E.; Abd-Elmageed, A.; Tutsch, R.: Bestimmung der Auslenkung von Mikrotastern mit optischen Methoden. In: tm - Technisches Messen Heft 81 (2014) 6, De Gruyter, S. 305-315, ISSN 0171-8096, e-ISSN 2196-7113
  • Broistedt, H., Tutsch, R.: Zufalls-Phasenschiebe-Interferometer zur Messung sphärischer Oberflächen. In: Sensoren- und Messsysteme 2014, ITG-Fachbericht, Band 250, 03.-04.06.2014 in Nürnberg, VDE-Verlag, ISBN 978-3-8007-3622-5
  • Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte deflektometrische Messung von transparenten Objekten. In: tm - Technisches Messen Heft 81 (2014) 4, S. 190-196
  • Gnieser, D., Frase, C. G., Bosse, H., Tutsch, R.: A virtual instrument for SEM uncertainty analysis. In: Key Engineering Materials, Vol. 613 (2014), pp. 101-107
  • Galovska, M.; Krystek, M.; Tutsch, R.: Curvature radii characterization based on point clouds (Charakterisierung von Krümmungsradien anhand von Punktewolken). In: tm - Technisches Messen, Heft 81 (2014) 1, S. 39-47

Jahrgang 2013

  • Hernández, C., Tutsch, R.: Consideration of the Measurement Uncertainty in the Assembling of Components Characterized by High Dimensional Variation. In: Journal of Physics: Conference Series, 2013 Joint IMEKO TC1-TC7-TC13, Symposium: Measurement Across Physical and Behavioural Sciences, Volume 459, (2013), 012037, Genova/Italy, 4.-6.09.2013, ISSN: 1742-6588
  • Fischer, M.; Nitsche, J.E.; Petz, M.; Tutsch, R.: Einfluss der Messpunktdichte bei Anwendung der Extremwertstatistik. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2216, Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, 6. Fachtagung Braunschweig, 5. und 6. November 2013, Düsseldorf : VDI, 2013, S. 143-154
  • Nitsche, J.E.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Measurement of the Geometry of Transmissive Optical Elements with Deflectometry In: International Symposium of Optomechatromics 2013, Oct. 27 - 30, Jeju, Korea
  • Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Systematic errors in deflectometry induced by use of liquid crystal displays as reference structure. 21st IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, 16-18 September 2013, Gdańsk, Poland
  • Fischer, M., Petz, M., Tutsch, R.: Modellbasierte deflektometrische Messung von transparenten Objekten. In: AHMT-Tagungsband XXVII. Messtechnisches Symposium, 12.-14.09.2013 in Zürich, Shaker Verlag, S. 139-150, ISBN: 978-3-8440-2124-0
  • Broistedt, H.; Tutsch, R.: Random phase shift interferometer for the measurement of spherical surfaces. In: Fringe 2013 – 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, 9.-11.09.2013 in Nürtingen, Springer Verlag, S. 417-422, ISBN: 978-3-642-36358-0
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Model-Based Deflectometric Measurement of Transparent Objects. In: Fringe 2013 – 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology, 9.-11.09.2013 in Nürtingen, Springer Verlag, S. 573-576, ISBN: 978-3-642-36358-0
  • Tutsch, R.; Nitsche, J.E.; Fischer, M.; Petz, M.: Korrelation optischer und taktiler Messungen In: Tagungsband VDI-Wissensforum, Form- und Konturmesstechnik 2013, Leonberg, 04.-05.06.2013.
  • Dierke, H., Fischer, M., Abd-Elmageed, A.-E., Nitsche, J., Schrader, C., Tutsch, R.: Detection of the Displacement of Micro touch Probes Using Structured Illumination. In: International Journal of Optomechatronics, Vol. 7, pp. 136-148, ISSN: 1559-9612, 2013
  • Tutsch, R.; Hernández, C.: Feed-Forward-Regelung von Prozessketten – Fähige Prozesse trotz nicht fähiger Teilprozesse. In: wt Werkstattstechnik online, Jahrgang 103 (2013) Heft 11/12

Jahrgang 2012

  • Dierke, H., Fischer, M., Abd-Elmageed, A., Nitsche, J., Schrader, C. and Tutsch, R. : Detection of the displacement of micro touch probes using structured illumination. In: International Symposium of Optomechatromics 2012, Oct 29-31, Paris, France
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Online-Bestimmung der aufgabenspezifischen zufälligen Abweichungen phasenmessender optischer Sensoren. In: Forum Bildverarbeitung 2012, Tagungsband (KIT) (Seite 59-70), Regensburg, November 2012, ISBN: 978-3-86644-927-5
  • Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.; Krystek, M.: Approach for the form measurement of rotationally symmetric workpieces. In: Michal Wieczorowski (ed.) et. al.: Implementation of Coordinate Metrology. University of Bielsko-Biala, Poland, 04/2012 pp. 103-113, ISBN: 978-83-63713-22-5
  • Petz, M.; Tutsch, R.; Christoph, R.; Andraes, M.; Hopp, B.: Tactile-optical probes for three-dimensional microparts. In: Measurement 45 (2012) 10, pp. 2288-2298
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. In: tm - Technisches Messen, Heft 79 (2012) 10, S. 451-458
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Vorhersage des Phasenrauschens in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. Sensoren und Messsysteme 2012, 16. GMA/ITG-Fachtagung, 22.-23. Mai, Nürnberg, 2012, S. 374-385
  • Dierke, H.; Schrader, C.; Tutsch, R.: Detection of Micro-Probe Displacement using a Shack-Hartmann Wavefront Sensor. In: International Journal of Optomechatronics, Vol. 6, 2012, pp. 226-235, ISSN: 1559-9612
  • Tutsch, R.: Optische Messsysteme. In.: Weckenmann, A. (Hrsg.): Koordinatenmesstechnik, Kapitel 5.5, Optische Messsysteme, S. 216-228, ISBN: 978-3-446-40739-8
  • Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion dimensioneller Messungen. In: tm - Technisches Messen, Heft 79 (2012) 4, S. 238-245
  • Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion von Koordinatenmessungen. In.: Sensoren und Messsysteme 2012, 16. GMB/ITG-Fachtagung, 22.-23.05.2012, Nürnberg, S. 578-588
  • Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Approach for the form measurement of rotationally symmetric workpieces. In.: Xth International scientific conference „Coordiante Measuring Technique“, 23rd-25th of April 2012, Bielsko-Biala, Poland
  • Dierke, H.; Tutsch, R.: Optical measurement of the layer thickness of transparent materials In.: Proc. SPIE 8430, „Optical Micro- and Nanometrology IV“, Brussels, Belgium, April 16-19, 2012, p. 843008
  • Galovska, M.; Tutsch, R.; Jusko, O.: Data fusion techniques for cylindrical surface measurements. In.: Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing, Vol. 9, (F. Pavese, M. Bär, J.-R. Filtz, A. B. Forbes, L. Pendrill, H. Shirono, eds.), Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences Vol. 84, World Scientific, Singapore, 2012, p. 179-186.
  • Galovska, M., Tutsch, R.: Measurement uncertainty associated with coordinate Mesarsurements: Evaluation and Reduction. In.: Metromeet 2012, 8th International Conference on Industrial Dimensinoal Metrology, 8.+9.03.2012 in Bilbao/Spanien
  • Schrader, C. , Tutsch, R. : Calibration of a microprobe array. Measurement Science and Technology 23 () 054001 (9pp), 2012
  • Tutsch, R.; Keck, Chr.: Berührungslos Messen – mit Licht. Institut für Produktionsmesstechnik forscht auf Gebiet der optischen Messtechnik. IQ-Journal 1/2012, S. 18-19. VDI Bezirksverein Braunschweig, Januar 2012.

Jahrgang 2011

  • Keck, C.; Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phasenrauschen bei Messungen mit strukturierter Beleuchtung. 3D-NordOst 2011 - 14. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Modellierung, Verarbeitung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 08.-09.12.2011, S. 7-16
  • Jansen, C.; Priebe, S.; Möller, C.; Jacob, M.; Dierke, H.; Koch, M.; Kürner, T.: Diffuse Scattering From Rough Surfaces in THz Communication Channels. In IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, November 2011, Volume 1, Nummer 2 ITTSBX, S. 462-472, ISSN 2156-342X
  • Schrader, C., Krah, T., Tutsch, R. Büttgenbach, S.: Parallelisierte taktile Messtechnik für Mikrostrukturen. In: Abschlussbericht, DFG Schwerpunktprogramm 1159, StraMNano (07.10.2011 in Erlangen) S. 19-35, ISBN: 978-3-8440-0358-1
  • Tan, Ö., Krah, T., Neuschaefer-Rube, U., Ehrig, W., Viering, B., Herffurth, T., Schröder, S.. Lyda, W., Eigenbrod, H., Hoffmann, R., Weißensee, K., Apel, S., Pedrini, G., Gaspar, J., Schrader, C., Zschiegner, N.: Bestimmung der Messunsicherheit in Mikrometer Bereich – Strategien, Modelle und Einflussfaktoren. In: Abschlussbericht, DFG Schwerpunktprogramm 1159, StraMNano (07.10.2011 in Erlangen) S. 188-205, ISBN: 978-3-8440-0358-1
  • Broistedt, H.; Doloca, R.; Strube, S.; Tutsch, R.: Random-phase-shift Fizeau interferometer. In: Applied Optics Vol. 50, Iss. 36, pp. 6564–6575 (2011)
  • Hernández, C.; Tutsch, R.: Influence of the Look-up Window size when applying a Forward-Looking Controller. International Conference AMCTM „Mathematical Tools for Measurements“, June 20-22, Göteborg/Sweden, 2011
  • Hernández, C.; Tutsch, R.: Influence of The Sampling Strategy on Feed-Forward Control. The 2nd International Congress on Mechanical Metrology (II CIMMEC), September 27-30, Natal-Brazil, 2011
  • Tutsch, R., Hernández, C.: Fähige Prozessketten durch Feed-Forward-Control und Dynamisches Toleranzmanagement. In: KIT Scientific Reports 7591, (11.-12.10.2011 Karlsruhe), Abschlusskolloquium SFB 499, S. 119-124, ISBN: 978-3-86644-747-9
  • Galovska, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Unsicherheit bei der Datenfusion dimensioneller Messungen. In: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2011, S. 253-264
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phasenrauschen in optischen Messsystemen mit strukturierter Beleuchtung. In: XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2011, S. 115-125
  • Brand, U.; Beckert, E.; Beutler, A.; Dai,G.; Stelzer, C.; Hertwig, A.; Klapetek, P.; Koglin, J.; Thelen, R.; Tutsch, R.: Comparison of optical and tactile layer thickness measurements of polymers and metals on silicon or SiO2. In: Measurement Science and Technology 22 (2011) 094021 (14 pp.)
  • Tutsch, R.; Petz, M.; Fischer, M.: Optical three-dimensional metrology with structured illumination. In: Optical Engineering 50 (10), 101507 (October 2011)
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Online Phase Noise Estimation in Structured Illumination Measurement Systems. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 104 (abstract)
  • Hernández, C.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Dynamic specifications by forward-looking controlling. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 108 (abstract)
  • Schrader, C.;Tutsch, R.: Calibration of a Micro Probe Array. ISMTII-2011, Daejeon, Korea, 29.6.-2.7.2011. Proceedings p. 100 (abstract)
  • Dierke, H.; Schrader, C.; Tutsch, R.: Detection of micro-probe displacement using a Shack-Hartmann wavefront sensor. In: Proc. of SPIE, Vol. 8082, München 23.-26.05.2011, pp. 80820K-1-8
  • Dierke, H.; Fischer, M.; Tutsch, R.; Casarotto, L.: Optisches Extensometer zur Verfolgung propagierender Verformungsbänder. In: Zeitschrift „tm“ Technisches Messen 4/2011, S. 211-217
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Phase Noise in Structured Illumination Systems. In: Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, 16.-18.05.2011 , Linz/Austria, pp. 63-68, ISBN: 978-3-8440-0058-0
  • Galovska M.; Tutsch, R.: Data fusion techniques in dimensional metrology. In: Innovalia Association (Publ.): Metromeet 2011 - 7th International Conference on Industrial Dimensional Metrology (31.03.-01.04.2011, Bilbao, Spanien). - Proceedings on CD-ROM.
  • Zebian, M.; Galovska, M.; Hensel, J.; Fedtke, T.: Uncertainty study on the characterisation of ear canal probes. In: Systems of information processing, 2011, Issue 1 (91). Kharkiv,Ukraine, Februar 2011, p. 116-122, ISSN 1681-7710
  • Tutsch, R.; Doloca, R.; Broistedt, H.: Analysis of Interferograms by Random Phase Shift Evaluation. In: XXXV OSI Symposium, International Conference on Contemporaray Trends in Optics and Optoelectronics. 17.-19.01.2011 in Thiruvananthapuram/Indien, Seite 87
  • Broistedt, H., Tutsch, R.;: Determination of Stochastic Phase Shifts in Random Phase Shift Interferometric Testing of Spherical Surfaces. In:10th IMEKO Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry (LMPMI), VDI Verlag GmbH Düsseldorf, 2011, S. 105-111
  • Ruprecht, A.; Böwer, J.; Eggers, J.-H.; Tutsch, R.: Optische Präzisionsmessung von Nick-, Gier- und Rollwinkel mittels Autokollimator. In: 112. Jahrestagung der DGaO,Ilmenau, DGaO-Proceedings, ISSN: 1614-8436, 2011
  • Keck, Chr.; Berndt, M.; Tutsch, R.: Stereophotogrammetry in Microassembly. In: Büttgenbach, S.; Burisch, A.; Hesselbach, J.: Design and Manufacturing of Active Microsystems. Springer-Verlag Berlin und Heidelberg 2011. S. 309-326

Jahrgang 2010

  • Tutsch, R.; Petz, M.; Galovska, M.: Strategy and uncertainty evaluation of cylindrical and spherical measurements without rotation axis. In: 3rd International Conference MANUFACTURING 2010, Institute of Mechanical Technology, Poznan University of Technology, Poznan, Poland, 2010, p. 194
  • Tutsch, R.; Petz, M.; Schrader, Chr.: Kleinste Merkmale mit Koordinatenmessgeräten messen - taktil und berührungslos. In: VDI-Berichte 2120, Koordinatenmesstechnik 2010 - Technologien für eine wirtschaftliche Produktion, 8. VDI-Fachtagung, Braunschweig, 3. und 4. November 2010, Düsseldorf : VDI, 2010, S. 61-69
  • Galovska, M.; Warsza, Z.: Estymatory wartości mezurandu próbek danych o rozkładach niegaussowskich. In: Metrologia dziś I jutro, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław, 2010, ISBN-978-83-7493-539-5, S. 50-72
  • Dierke, H.; Fischer, M.; Casarotto, L.; Tutsch, R.: Optisches Extensometer zur Verfolgung propagierender Verformungsbänder. In: XXIV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2010, S. 179-189
  • Hernandez, C.; Tutsch, R.: Capable Production Processes by Dynamic Tolerancing. In: Proceedings of the 10th International Symposium on Measurement and Quality Control, September 5.-9., 2010, Osaka, Japan, ISBN 978-4-9905119-1-3, pp. D3-031-1-4
  • Tutsch, R.; Andraes, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Petz, M.; Wiedenhoefer, T.; Wissmann, M.: Tactile-Optical Microprobes for three Dimensional Measurements of Microparts. In: Proceedings of the 10th International Symposium on Measurement and Quality Control, September 5.-9., 2010, Osaka, Japan, ISBN 978-4-9905119-1-3, pp. E2-032-1-4, rewarded the "Outstanding Paper Award" (105.03 KiB) of ISMQC 2010
  • Broggiato, G. B.; Ferrari,D.; Fischer, M., Veglianti, V.:Sheet-Metal Assessment at Medium Strain-Rates by Digital Image Correlation. STRAIN. 46 (2010) 4, S. 396-403
  • Tutsch, R.; Petz, M.; Galovska, M.: Messstrategie für zylindrische Werkstücke ohne Verwendung einer Rotationsachse. In: Tagungsband VDE-Wissensforum, Form- und Konturmessung, Leonberg, 15.-16.06.2010
  • Gnieser, D.; Frase, C. G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Model-based Correction of Image Distortion in Scanning Electron Microscopy. In: Key Engineering Materials Vol. 437 (2010), pp. 40-44, ISBN 978-0-87849-273-2
  • Schrader, C.; Herbst, C.; Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Krah, T.: Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures. In: Key Engineering Materials Vol. 437 (2010), pp. 136-140, ISBN 978-0-87849-273-2
  • Gnieser, D.; Frase, C.G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Modell-basierte Korrektur von Bildverzerrungen in der Rasterelektronenmikroskopie. In: XXIII. Messtechnisches Symposium des AHMT, 17.-19. September 2009 in Bremen, Tagungsband, S. 217-225
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Evaluation of LCD monitors for deflectometric measurement systems. In: Optical Sensing and Detection, 12.-16.04.2010 in Brüssel/Belgien. Proc. of SPIE, Vol. 7726, pp. 77260V-1-77260V-10
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Bewertung von LCD-Monitoren für deflektometrische Messsysteme. In: Sensoren und Messsysteme 2010, Vorträge der 15. ITG/GMA-Fachtagung vom 18.-19. Mai in Nürnberg, 2010, S. 159-165
  • Petz, M.; Tutsch, R.; Andräs, M.; Wiedenhöfer, T.; Hopp, B.: Stereophotogrammetric Tactile-Optical Probe for Three-Dimensional Microparts. In: Advances in Coordinate Metrology, University of Bielsko-Biała, Bielsko-Biała, 2010, ISBN 978-83-62292-56-1, pp. 275-284
  • Herbst, Chr.; Tutsch, R.: Simulation of a Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures. In: Advances in Coordinate Metrology, University of Bielsko-Biała, Bielsko-Biała, 2010, ISBN 978-83-62292-56-1, pp. 15-24
  • Fischer,M.; Casarotto,L.; Tutsch, R.:Optical Control of a Movable High-Speed Camera for Multiscale PLC-Band Propagation Tracking. In: International Journal of Optomechatronics, Vol. 4 (2010) 1, S. 51-64
  • Tutsch, R.; Petz, M.; Andräs, M.; Wiedenhöfer, T.; Neuschaefer-Rube, U.; Wissmann, M.: Taktil-optischer 3D-Taster zur Messung von Mikrobauteilen. In: tm - Technisches Messen, Heft 77 (2010) 2, S. 95-100
  • Schrader, Ch.; Tutsch, R.; Herbst, Ch.;Büttgenbach, S.; Krah, T.: Micro Coordinate Measuring Machine for Parallel Measurement of Microstructures. Key Engineering Materials, Vol. 437, 2010 , pp. 136-140, ISBN 0-87849-273-9
  • Galovska, M., Warsza, Z.: The ways of effective estimation of measurand. In: Pomiary Automatyka Komputery 1/2010, ISSN 1889-6981, pp. 19-20

Jahrgang 2009

  • Keck, Ch.; Eggers, J.-H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Ein Verfahren zur Messung der räumlichen Position und Orientierung von Mikrobauteilen mit planaren Strukturen. In: L. Paul, Prof. G. Stanke / M. Pochanke: 3D-NordOst 2009 - 12. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Modellierung, Verarbeitung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 2009, S. 81-90
  • Rathmann, S.; Ellwood, J.; Hemken, G.; Keck, Chr.; Böhm, S.; Tutsch, R.; Raatz, A.: Präzisionsmontage schmelzklebstoffbeschichteter Bauteile mit Hilfe eines 3D-Bildsensors. In: Vollertsen, F.; Büttgenbach, S.; Kraft, O.; Michaeli, W. (Hrsg.): 4. Kolloquium Mikroproduktion. Fachbeträge der vier SFB der Mikrotechnik. Bremen, 28.-29. Oktober 2009, S. 151-156.
  • Weichert, Ch.; Flügge, J.; Köning, R.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Aspects of design and the characterization of a high resolution heterodyne displacement interferometer. In: 6th International Workshop on Advanced Optica Metrology. Fringe 2009, Springer, S. 263-268
  • Fischer, H.,; Tutsch, R.: Digital holographic interferometry for deformation measurement by means of an acoustical device. In: 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology. Fringe 2009, Springer, pp. 472-476
  • Broistedt, H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Force transducer based on a geometric-optical displacement sensor. In: ISOT 2009. International Symposium on Optomechatronic Technologies, 2009, pp. 164-168
  • Broistedt, H.; Petz, M.; Tutsch, R.: Kraftaufnehmer auf Basis eines geometrisch-optischen Längenmesssystems. In: XXIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., Aachen : Shaker, 2009, S. 13-24
  • Casarotto, L.; Dierke, H.; Tutsch, R,; Neuhäuser, H.: On nucleation and propagation of PLC bands in an Al-3Mg alloy. In: Materials Science and Engineering A, 527 (2009), S. 132-140
  • Broggiato, G.B.; Casarotto, L.; Del Prete, Z.; Maccarrone, D.: Full-Field Strain Rate Measurement by White-Light Speckle Image Correlation. In: Strain - An International Journal for Experimental Mechanics, 45 (2009) 4, S. 364-372
  • Gnieser, D.; Frase, C.G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: Model-based correction of image distortion in scanning electron microscopy. In: Proceedings of ISMTII-2009, Volume 1, pp. 1-147 - 1-151
  • Schrader, C.; Herbst, C.; Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Krah, T.: Micro coordinate measuring machine for parallel measurement of microstructures. In: Proceeding of ISMTII-2009, Volume 2, pp. 2-123 - 2-127
  • Tutsch, R.; Berndt, M.: Miniaturisierter photogrammetrischer 3D-Sensor. InnovationsForum Photonik, Optische Sensorik, 12. Mai 2009 in Goslar (Tagungsband zur Verleihung des Kaiser Friedrich Forschungspreises 2009), S. 52-53
  • Tutsch, R.; Andräs, M.; Neuschaefer-Rube, U.; Petz, M.; Wiedenhöfer, T.; Wissmann, M.: Three dimensional tactile-optical probing for the measurement of microparts. In: Proceedings of SENSOR 2009, Volume II, pp. 139-144
  • Schrader, C.; Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Krah, T.: Application of a Touch-Probe for the Parallel Measurement of Microstructures. In: Proceedings of SENSOR 2009, Volume II, pp. 289-293
  • Tutsch, R.: Geometric Metrology in Microproduction. In: VDI/VDE-IT mstnews 01/09 pp. 14-15
  • Petz, M.; Fischer, M.; Tutsch, R.: Three-dimensional shape measurement of aspheric refractive optics by pattern transmission photogrammetry. In: Beraldin, J. A.; Cheok, G. S.; McCarthy, M.; Neuschaefer-Rube, U. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7239 (2009) - Three-Dimensional Imaging Metrology, pp. 723906-1 - 723906-8

Jahrgang 2008

  • Rathmann, S.; Schöttler, K.; Berndt, M.; Hemken, G.; Raatz, A.; Böhm, S.; Tutsch, R.: Sensor-guided micro assembly of active micro systems by using a hot melt based joining technology. In: Microsystem Technologies, Volume 14, Issue 12 (2008) 14, pp. 1975-1981
  • Doloca, R.; Broistedt, H.; Tutsch, R.: Phase-shift Fizeau interferometer in presence of vibration. In: Novak, E. L.; Osten, W.; Gorecki, Chr. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7064_2 (2008) - Interferometry XIV: Applications
  • Doloca, R.; Tutsch, R.: Random-phase-shift Fizeau interferometer. In: Quan, C.; Asundi, A. (ed.): Proc. SPIE Vol. 7155_27 (2008) - Ninth International Symposium on Laser Metrology
  • Broggiato, G.B.; Ferrari, D.; Fischer, M.; Veglianti, V.: Caratterizzazione di lamiere sottili a media velocità di deformazione mediante correlazione numerica di immagini speckle. AIAS (Italian Association for Stress Analysis) – 37. Convegno Nazionale dell'Associazione Italiana, 10.-13. September 2008, Università di Roma „La Sapienza“, Italia, 2008
  • Fischer, M.; Broggiato, G.B.; Ferrari, D.; Tutsch, R.; Veglianti, V.: Measurement of sheet-metal planar anisotropy at medium strain-rates by digital image correlation. 25.-26. August 2008, Prague, Czech Republic, 2008
  • Gnieser, D.; Frase C.G.; Bosse, H.; Tutsch, R.: MCSEM-a modular Monte Carlo simulation program for various applications in SEM metrology and SEM photogrammetry. 14th European Microscopy Congress 1.-5. September 2008 in Aachen, Volume 1 Instrumentation and Methods, Seite 540-550
  • Keck, Chr.; Berndt, M.; Tutsch, R.: Ein photogrammetrischer Sensor für die Mikromontage. 22. Messtechnisches Symposium AHMT e.V., 11.-13. September 2008 in Dresden, Seite 169-180
  • Tutsch, R.; Petz, M.; Keck, C.: Optical 3D measurement of scattering and specular reflecting surfaces. In: Journal of Physics: Conference Series, UK, Band 139 (2008), Seite 012008 (6 Seiten).
  • Tutsch, R.; Herbst, Chr.: Erfassung von Standardgeometrieelementen im Mikrometerbereich. In: tm - Technisches Messen 75 (2008) 5, S. 327-338
  • Fischer, M.; Petz, M.; Tutsch, R.: Dreidimensionale Formerfassung von asphärischen refraktiven Optiken mittels Rasterphotogrammetrie in Transmission. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2011, Sensoren und Messsysteme 2008, 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. März 2008, Düsseldorf : VDI, 2008, S. 397-408
  • Fischer, H.; Tutsch, R.: Akustisch reflexionsholographische Interferometrie zur Verformungsmessung. In: VDI Wissensforum GmbH (Hrsg.), VDI-Berichte 2011, Sensoren und Messsysteme 2008, 14. Fachtagung Ludwigsburg, 11. und 12. März 2008, Düsseldorf : VDI, 2008, S. 197-209

Jahrgang 2007

  • Berndt, M., Tutsch, R., Rathmann, S., Böhm, St., Hemken, G., Raatz, A., Schöttler, K.: Einsatz von Schmelzklebstoffen bei der sensorgeführten Montage aktiver Mikrosysteme. In: Kolloquium Mikroproduktion - Forschritte-Verfahren-Anwendungen, 21.-23.11.2007 in Karlsruhe (Forschungszentrum), ISBN: 978-3-923704-61-3
  • Fischer, M., Casarotto, L., Strube, S., Tutsch, R.: Tracking the propagation of type B PLC bands. In: Optomechatronic Sensors and Instrumentation III, Proc. of SPIE Vol. 6716, 671604, Lausanne, 2007
  • Fischer, M., Casarotto, L., Tutsch, R.: Two-camera-setup for the dynamic measurement of moving dislocations in aluminum alloys. 4th CIMM-PTB Seminar - Dynamic Calibration and Measurement. 15.-16. Oktober 2007, Braunschweig, 2007
  • Berndt, M., Tutsch, R.: Accurate and robust optical 3D position control in microassembly using fluorescent fiducial marks. In: Optomechatronic Sensors and Instrumentation III, Proc. of SPIE Vol. 6716, 67160N-1, Lausanne, 2007
  • Molnar, G., Tutsch, R.: Vertical scanning interferometry with a mixed-coherence light source. Osten, W.; Gorecke, C.; Novak, E. L. (eds.): Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V, Proceedings of SPIE Vol. 6616, 661608 (2007), 18.-21.06.2007 in München
  • Broggiato, G.B., Casarotto, L., Del Prete, Z., Maccarone, D.:Full-field strain rate measurement by white-light speckle image correlation. Gdoutos, E.E. (ed.), Proceedings of the 13th International Conference on Experimental Mechanics ICEM 13, S. 353-354, Alexandroupolis, Greece, 2007, ISBN 978-1-4020-6238-4
  • Casarotto, L., Tutsch., R. Dierke, H., Neuhäuser, H.: Experimental investigation on the dynamics of PLC-bands in Al-Mg alloys. Gdoutos, E. E. (ed.) Proceedings of the 13th International Conference on Experimental Mechanics ICEM 13, alexandroupolis, Greece 2007, S. 163-164, ISBN 978-1-4020-6238-4
  • Fischer, M., Berndt, M., Petz, M., Tutsch, R.: Photogrammetrie in der Mikromontage, Industrielle Bildverarbeitung für automatisierte Produktionen. Fraunhofer IPA Workshop F149, 05.07.2007, Machine Vision Excellence 2007, S. 168-177, Stuttgart, 2007

Jahrgang 2006

  • Büttgenbach, S.; Brand, U.; Bütefisch, S.; Herbst, Ch.; Krah, T.; Phataralaoha, A.; Tutsch, R.: Taktile Sensoren für die Mikromesstechnik. GMA-Fachtagung „Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering“, Erlangen, 29. + 30.11.2006, In: VDI-Berichte 1950, S. 109-118, 2006
  • Doloca, R., Tutsch, R.: Vibration induced phase-shift interferometer. In SPIE Vol. 6292, Optics and Photonics 2006, Optics, Optomechanics and Metrology, Vol. 6285, 6286-6293, SPIE, 13.-17.08.2006 in San Diego, California/USA, ISBN-Nr. 0-8194-6371-x
  • Berndt, M., Hesselbach, J., Schöttler, K., Tutsch, R.,: Assembly of Hybrid Microsystems Using an Assembly System with 3D Optical Sensor. Annals of CIRP, Vol. 55/1, 2006, S. 11-14, Kobe, Japan
  • Fischer, H., Tutsch, R.: Akustisches Reflexionsverhalten unter Luftultraschalleinwirkung, 32. Deutsche Jahrestagung für Akustik, DAGA 20.-23. März 2006 in Braunschweig
  • Berndt, M., Tutsch, R.; Büttgenbach, S.; Hesselbach, J.; Hoxhold, B.; Schöttler, K.: Sensor Guided Handling and Assembly of Active Micro-Systems. Microsystems Technology (2006), ISSN 0946-7076 (200606) (Paper) 1432-1858 (Online), DOI 10.1007/s00542-006-0088-0, Springer-Verlag, Colloquium on Micro Production, Aachen, 2-3 March 2005, Seite 665-669
  • Tutsch, R., Petz, M.,: Ermittlung der Oberflächengeometrie aus Meßpunktewolken in der optischen 3D-Meßtechnik, Expertenforum „Informationsfusion in der Mess- und Sensortechnik“ am 21. und 22. Juni 2006 in Eisenach /VDI/VDE-Gesellschaft
  • Casarotto, L., Tutsch, R.: Investigation of the Portevin-Le Chatelier effect by means of an optical extensometer and of a triggered camera. Sensoren und Messsysteme 2006, Vorträge der 13. ITG/GMA-Fachtagung 13. und 14. März 2006 in Freiburg/Breisgau, S. 181-184

Jahrgang 2005

  • Tutsch, R.: Neue Trends bei berührungslosen und Multisensor Koordinatenmeßgeräten, In: VDI/VDE-Berichte 1914, Tagung Braunschweig 15. u. 16.11.2005, Seite 147-154
  • Büttgenbach, S.; Feldmann, M.; Hesselbach, J.; Schöttler, K.; Tutsch, R.; Berndt, M.: Referenzmarken bei der Montage aktiver Mikrosysteme, Mikrosystemtechnik Kongress, ISBN 3-8007-2926-1, S. 459-462, Freiburg, 2005
  • Molnar, G., Tutsch, R., Fischer, G.: Photogrammetry in SEM-Microscopy. In: Grün, A., Kahmen, H.(eds.): Optical 3-D Measurement Techniques VII, ISBN 3-9501492-2-8, Volumen I, Page 255-261, Wien, 2005
  • Doloca, R., Tutsch, R.,: Random phase shift interferometer:The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns, W. Osten (Ed.) Fringe 2005, Seiten 167-174
  • Petz, M., Tutsch, R.,: Reflection grating photogrammetry: a technique for absolute shape measurement of specular free-form surfaces. In: Stahl, H.P. (ed.): Proc. Spie Vol. 5869 (2005). Optical Manufacturing and Testing VI, pp. 58691D-1 - 58691D-12
  • Tutsch, R.; Berndt, M.: Enhancement of image contrast by fluorescence in microtechnology, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV, Proceedings of SPIE Volume 5856, ISBN 0-8194-5856-2, S. 914-921, München, 2005
  • Fischer, H., Tutsch, R.,: Akustische Holographie und Rekonstruktion akustischer Wellenfelder aus Hologrammen. Poster, 31. Deutsche Jahrestagung für Akustik, DAGA '05, 2005
  • Casarotto, L., Tutsch, R., Ritter, R., Dierke, H., Klose, F., Neuhäuser, H.: Investigation of PLC bands with optical techniques. In: Computational Materials Science, ISSN-Nr. 0927-0256, S. 316 - 322, Magdeburg, 2005
  • Hoxhold, B.; Büttgenbach, S.; Wrege, J.; Heuer, K.; Hesselbach, J.; Tutsch, R.; Berndt, M.: Sensorgeführte Montage aktiver Mikrosysteme, In Vortrag beim Kolloquium Mikroproduktion der Sonderforschungsbereiche 440, 499 und 516, ISBN 3-86130-999-8, S. 263-272, Aachen, 2005

Jahrgang 2004

  • R. Tutsch, M. Berndt: An automated foam decay measurement with image processing system, Measurement and Quality Control in Production 2004, VDI-Bericht Nr. 1860, ISBN 3-18-091860-8, S. 237-244, Erlangen, 2004
  • J. Hesselbach, R. Tutsch, G. Pokar, S. Bütefisch, M. Berndt: Assembly and measuring technique for the manufacturing of active micro systems, Springer Verlag, Microsystems Technologies, Volume 10 - Number 3, S.182-186, Berlin, 2004
  • K. Heuer, J. Hesselbach, R. Tutsch, M. Berndt: Sensor Guided Assembly System For Microassembly, In Proceedings of RAAD'04, 13th International Workshop on Robotics in Alpe-Adria-Danube Region, Brno University of Technology, ISBN 80-7204-341-2, S. 228-233, Brno, 2004
  • Casarotto, L., Tutsch, R., Dierke, H., Neuhäuser, H.: Real-time detection of Portevin-Le Chatelier bands by means of a two camera system. Proceedings of the 12th International Conference on Experimental Mechanics ICEM 129; Bari; Italy, 29.08.-02.09.2004 Published on CD.
  • K. Heuer, J. Hesselbach, R. Tutsch, M. Berndt: Sensorgeführtes Montagesystem für die Mikromontage, Robotik 2004, VDI-Berichte Nr. 1841, ISBN 3-18-091841-1, S.39-46, München, 2004
  • Petz, M., Tutsch, R.: Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen. In: tm - Technisches Messen 71 (2004) 7-8, S. 389-397
  • Casarotto, L., Tutsch, R., Dierke, H., Neuhäuser, H.: Application of a fast scanning optical extensometer for tensile testing, Colloque Photomécanique 2004, Albi, 4.-6. Mai 2004
  • M. Petz, R. Tutsch: Reflection grating photogrammetry. In: VDI-Berichte 1844, International Symposium on Photonics in Measurement, Frankfurt, 2004, p. 327-338
  • M. Petz, R. Tutsch: Photogrammetrische Messung schneller Verformungen mit Zeilenkameras. In: VDI-Berichte 1829, Sensoren und Messsysteme 2004, Ludwigsburg, 2004, S. 689 - 697

Jahrgang 2003

  • M. Petz, R. Tutsch, M. Brand, V. Michailov: Verformungsmessung an Schweißkonstruktionen unter Einsatz des Objektrasterverfahrens. In: L. Paul, Prof. G. Stanke / M. Pochanke: 3D-NordOst 2003 - 6. Anwendungsbezogener Workshop zur Erfassung, Verarbeitung, Modellierung und Auswertung von 3D-Daten, Berlin, 2003, S. 71-78
  • G. Molnar, R. Tutsch, G. Fischer: 3D evaluation of tensile tests by SEM-microscopy. In: Micro.tec 2003 2nd VDE World Microtechnologies Congress, München, 13.-15.10.2003, Tagungsband ISBN 2-8007-2791-9, S. 95-98
  • R. Tutsch, M. Berndt: Optischer 3D-Sensor zur räumlichen Positionsbestimmung bei der Mikromontage, VDI-Berichte Nr. 1800, Applied Machine Vision, ISBN 3-18-091800-4, S. 111-118, Stuttgart, 2003
  • K. Heuer, G. Pokar, J. Hesselbach, R. Tutsch, M. Petz, M. Berndt: 3D-sensor for the control of a micro assembly robot, Optomechatronic Systems IV, Proceedings of SPIE volume 5264, ISBN 0-8194-5152-5, S. 267-273, Providence, 2003
  • M. Brand, V. Michailov, M. Petz, R. Tutsch: FE-Welding Simulation and Distortion Measurement During Welding Using Optical Object Grating Method. 7th International Seminar Numerical Analysis of Weldability, 29 September - 1 October 2003, Graz, Austria
  • L. Casarotto, R. Tutsch, R. Ritter, H. Dierke, F. Klose, H. Neuhäuser: Investigation of PLC-Bands with Optical Techniques. 13th International Workshop on Computational Mechanics of Materials (IWCMM 13), 22.-23.09.2003, Magdeburg. Zur Veröffentlichung eingereicht bei Computational Materials Science (Elsevier)
  • L. Casarotto, R. Tutsch, R. Ritter, J. Weidenmüller, A. Ziegenbein, F. Klose, H. Neuhäuser: Propagation of deformation bands investigated by laser scanning extensometry. Computational Materials Science 26 (2003), S. 210-218
  • M. Petz, R. Tutsch: Measurement of optically effective surface by imaging of gratings. In: W. Osten, K. Creath, M. Kujawinska (Hrsg.): Proc. SPIE Vol. 5144 (2003) - Optical Measurement for Industrial Inspection II, S. 288-294.
  • L. Casarotto, R. Tutsch, R. Ritter, H. Dierke, F. Klose, H. Neuhäuser: Tracking the Propagation of Deformation Bands by Means of an Optical Scanning Extensometer. In Vortrag bei XVII IMEKO World Congress Metrology in the third Millennium am 22.-27.6.2003, Dubrovnik, Kroatien, publiziert auf CD-ROM.
  • G. Molnar R. Tutsch, G. Fischer: Photogrammetric 3D-Measurement of Microstructure from SEM Images. In: M. Weck, H. Kunzmann (Hrsg.): Proceedings of EUSPEN International Conference on Precision Engineering, Micro Technology, Measurement Techniques and Equipment 2003, S. 515-517
  • J. Hesselbach, R. Tutsch, G. Pokar, M. Berndt: Montage- und Messtechnik zur Fertigung aktiver Mikrosysteme In Vortrag beim Kolloquium Mikroproduktion der Sonderforschungsbereiche 440, 499 und 516, ISBN 3-8027-8670-X, S. 57-64, Braunschweig, 2003
  • H. Müller: Kalibrierung von Beschleunigungsaufnehmern bei stoßförmiger Anregung und nach dem Vergleichsverfahren. In: tm - Technisches Messen 70 (2003) 6, S. 327-332

Jahrgang 2002

  • J. Hesselbach, D. Ispas, G. Pokar, S. Soetebier, R. Tutsch: Parallel robot for micro assembly with integrated innovative optical 3D-sensor. In: Optomechatronic Systems III, 12-14. November 2002 in Stuttgart, Proceedings of SPIE, Vol. 4902, S. 134-145
  • M. Petz, R. Tutsch, M. Brand, V. Michailov: Distortion measurement during welding of fine grain high strength steel using optical object grating method. Poster Presentation: Mathematical Modelling And Information Technologies In Welding And Related Processes, vil. Katsiveli, Crimea, Ukraine, 16 - 20 September 2002
  • M. Petz, R. Tutsch: Optical 3D Measurement of Reflecting Free Formed Surfaces. In: VDI-Berichte 1694, International Symposium on Photonics in Measurement, Aachen, 2002, S. 329-332
  • D. Ispas, R. Tutsch: Compact Stereoscopic 3D-Sensor for Micro-Robot Control. Poster: Internationales Symposium Photonics in Measurement, VDI-Berichte 1694, p. 179-182, 11.-12. Juni 2002, Aachen
  • G. Molnar, R. Tutsch: Geometrieerfassung durch photogrammetrische Auswertung rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen. Poster: Tagung Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik (DGaO). 22.-25. Mai 2002, Innsbruck
  • M. Petz, R. Tutsch: Rasterfahndung - Konturerfassung reflektierender Oberflächen. In: QZ - Qualität und Zuverlässigkeit, Jahrg. 47 (2002) 5, München, S. 556-558
  • R. Tutsch: Kein Tempel für die Meßtechnik. Antrittsvorlesung TU Braunschweig. 17. April 2002, Braunschweig
  • R. Tutsch: Kohärente und inkohärente optische Verfahren in der Mikromeßtechnik. In: 11. ITG/GMA-Fachtagung Sensoren und Mess-Systeme 2002. März, 2002, Ludwigsburg, S. 279-282
  • R. Tutsch: Mikrofotogrammetrische Meßtechnik. In: Physikalisches Kolloquium TU Gießen. Januar 2002, Gießen

Jahrgang 2001

  • R. Tutsch, L. Casarotto, R. Ritter, A. Ziegenbein, F. Klose, J. Weidenmüller, H. Neuhäuser: Propagation of deformation bands investigated by laser extensometry and video recording. In 11. Internationaler Workshop Computational Mechanics and Computer Aided Design of Materials (IWCMM11). 24.-25. September 2001, Freiberg
  • R. Tutsch, R. Ritter, D. Ispas, M. Petz, L. Casarotto. Microphotogrammetry for 3D strain measurement and microassembly control. In Proceedings of SPIE Microsystems Engineering: Metrology and Inspection, S. 27-35 Juni 2001, München 2001
  • M. Petz, R. Ritter: Reflection grating method for 3D measurement of reflecting surfaces. In: R. Höfling, W. Jüptner, M. Kujawinska (Hrsg.): Proc. SPIE Vol. 4399 (2001) - Optical Measurement for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering, S. 35-41
  • M. Petz, R. Ritter: Rasterreflexionsverfahren zur Konturerfassung spiegelnd reflektierender Oberflächen. Vortrag: DGaO-Jahrestagung 2001, Göttingen, Juni 2001
  • R. Tutsch, R. Ritter, M. Petz: Zur flächenhaften zerstörungsfreien Prüfung mit Hilfe optischer Feldmeßtechnik. Vortrag: DGZfP-Jahrestagung 2001 Zerstörungsfreie Materialprüfung, Berlin, Mai 2001
  • R. Tutsch: Interferometrische Asphärenprüfung. In: Physikalisches Kolloquium, TU Düsseldorf, 25. Januar 2001
  • R. Ritter, H. Friebe: Experimental Determination of Deformation and Strain Fields by Optical Measuring Methods. In: Deutsche Forschungsgemeinschaft Collaborative Research Centre 319 Stoffgesetze für das inelastische Verhalten metallischer Werkstoffe - Entwicklung und technische Anwendung. 1985-1996, WILEY-VCH, S. 298-317, 2001

Jahrgang 2000

  • C. Reich, R. Ritter, J. Thesing: 3-D shape measurement of complex objects by combining photogrammetry and fringe projection. Optical Engineering, 39(1), S. 224-231, 2000
  • B. Huhnke: Neue optische Abstandsaufnehmer für die fertigungsintegrierte Messung rotationssymmetrischer Werkstücke. VDI-Berichte 1530 VDE-Verlag 3/2000
  • R. Ritter, A. Ziegenbein, J. Thesing, H. Neuhäuser, H. Wittich, E. Steck: Local Plasticity of CU-AL-Polycrystals investigated by in Situ-Abservations and FEM-Simulations. Journal of the Mechanical Behaviour of Materials Vol. 11, Nr. 1-3, S. 257-264, Tel Aviv Israel, 2000